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VLSI测试方法学和可测性设计 世界热闻

发布时间:2023-02-07 17:13:38 来源:互联网


(资料图片)

1、 《VLSI测试方法学和可测性设计》是2005年电子工业出版社出版的图书。

2、作者是雷绍充 邵志标 梁峰。

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标签: 测试方法 电子工业出版社

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